高速加速壽命試験(HAST/PCT) High Accelerated Stress Test /
高加速壓力測(cè)試/壓力鍋測(cè)試 ■ 測(cè)試大綱 測(cè)試方法*也用于與電子設(shè)備相關(guān)的環(huán)境可靠性測(cè)試是不飽和(85% RH)壓力鍋測(cè)試(85% RH)。HAST:高加速壓力測(cè)試) .該測(cè)試的目的是評(píng)估電子產(chǎn)品的加速度和耐濕性,如 IEC60068-2-66 www.hast.cn 中的規(guī)定。(* JIS C 60068 是此的翻譯) 在飽和 (100% RH) 條件下的測(cè)試稱為壓力鍋測(cè)試 (PCT)。由于可以使試驗(yàn)槽內(nèi)的水蒸氣壓大大高于試樣內(nèi)部的水蒸氣分壓,可以加速水分侵入試樣,因此可以通過從不飽和狀態(tài)加速來評(píng)價(jià)耐濕性。
表1 HAST測(cè)試條件
圖1 HAST 試驗(yàn)裝置示意圖 * 由于兩層試驗(yàn)裝置具有試驗(yàn)槽和加濕槽的獨(dú)立結(jié)構(gòu),因此可以確保比單槽型更寬的內(nèi)部尺寸。另外,據(jù)說可以進(jìn)行高精度控制,因?yàn)闇y(cè)試槽(干球)和加濕槽(濕球)之間的溫度影響很小,但測(cè)試結(jié)果沒有顯著差異。www.hast.cn
■用途?規(guī)格
◆ JIS C 60068:環(huán)境試驗(yàn)方法-電氣/電子-高溫高濕、穩(wěn)定(不飽和加壓蒸汽)
◆IEC 60068-2-66,環(huán)境測(cè)試-第2部分:測(cè)試方法-測(cè)試Cx:濕熱,穩(wěn)態(tài)(不飽和加壓蒸汽)
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