為電工電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的
對于不同的產(chǎn)品,為了達(dá)到不同的目的,可以選擇不同的可靠性試驗(yàn)方法。可靠性試驗(yàn)有多種分類方法:一、如以環(huán)境條件來劃分可分 為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場試驗(yàn);
二、 以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分,可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);
三、若按試驗(yàn)?zāi)康膩韯澐郑瑒t可分為篩選試驗(yàn)、鑒定試驗(yàn)和驗(yàn)收試驗(yàn);
歸結(jié)為電工電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的目的通常有如下幾方面:
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性到達(dá)預(yù)定指標(biāo)的狀況;
2.消費(fèi)階段為監(jiān)控消費(fèi)過程提供信息;
3.對定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性審定或驗(yàn)收;
4.暴露和分析產(chǎn)品在各種環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理;
5.為改良產(chǎn)品可靠性,制訂和改善可靠性試驗(yàn)方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。
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