低氣壓試驗條件和標準

1、試驗氣壓

GJB 150不適用于飛行高度超過30 000m的航天器、飛機或導彈上的裝備，而GJB 360中給出了4 572~200 000m不同高度下對應的低氣壓值，GJB 548也給出了4 572~200 000m不同高度下對應的低氣壓值。

對比GJB 360與GJB 548的低氣壓-高度表，GJB 548共列出了A、B、C、D、E、F、G7個不同條件下的高度氣壓值，并且所給出的試驗條件有一定的規律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小；

GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、J 10個不同條件下的高度氣壓值，并且所列的高度-氣壓表中的試驗條件由A到試驗條件E有一定的規律性，隨著飛行高度由低到高，氣壓值由大變小，而由試驗條件F到試驗條件J沒有呈現規律性。

與GJB 548所列的試驗條件對比，GJB 360 試驗條件增加了條件H到試驗條件J，對應的氣壓高度條件分別為：H：3 000m 70kPa；J：18 000m，7.6kPa；K：25 000m, 2.5 kPa 。

2、試驗時間

GJB 360B-2009規定：若無其他規定，試驗樣品在低氣壓條件下的試驗時間，可從下列數值中選取：5min、30min、1h、2h、4h和16h。

3、升降壓速率

通常不大于10kPa/min。

低氣壓試驗標準：

1. GJB 150.2A-2009 《軍用裝備實驗室環境試驗方法 第二部分 低氣壓（高度）試驗》

2. GJB 360B-2009《電子及電氣元件試驗方法 方法105低氣壓試驗》（等效美軍標MIL-STD-202F ）

3. GJB 548B-2005《微電子器件試驗方法和程序 方法1001 低氣壓（高空作業）》（等效美軍標MIL-STD-883D)

4. GB/T 2421-2008《電工電子產品基本環境試驗 總則》

5. GB/T 2423.21-2008《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗M低氣壓試驗方法》

6. GB/T 2423.25-2008《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AM 低溫/低氣壓綜合試驗方法》

7. GB/T 2423.26-2008《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/BM 高溫/低氣壓綜合試驗方法》

8. GB/T 2423.27-2005《電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Z/AMD 高溫/低氣壓綜合試驗訪求》

9. GB/T 2424.15-2008《電工電子產品基本環境試驗規程》

10. MIL-STD-810F 《環境工程考慮與實驗室試驗 低氣壓（高度）試驗》

11. 溫度、壓力、高度關系GB1920

12. IEC 60068-2-41（1976）《基本環境試驗規程 第二部分 試驗 試驗Z/BM 高溫/低氣壓試驗》

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