集成電路使用高低溫試驗箱

隨著數字經濟的發展，集成電路工藝在尺寸、集成度、性能等方面都有了長足的進步。為降低成本、提高性能，新材料、新工藝、新器件結構被廣泛應用于集成電路。這些新技術對保障和提升集成電路的可靠性提出了很大的挑戰。

按照目前普遍采用的國際標準，一般電器的使用壽命應超過10年。很明顯，我們不能把一款產品放在普通的情況下，10年后才能對該產品的可靠性進行評判。為此，通常將試樣置于高壓、大電流、高濕度、高溫、大氣壓等環境中進行試驗，并基于其破壞機制及模型推斷其在常規環境中的使用壽命。

冷熱沖擊試驗是用來測試材料結構或復合材料在瞬間下經高溫、低溫的連續環境下所能承受的程度，它適用于電工、電子產品、半導體、電子線路板、金屬材料等多種材料，它們在溫度劇烈變化的環境下的適應性。在開發過程中，它可以用來找出產品的設計、制造過程中存在的問題，有時還可以用來篩查環境因素，排除早期失效。測試的嚴格程度由高、低、停留時間、變溫時間、周期等因素決定。 

宏展高低溫冷熱沖擊試驗：High And LowTemperature Shock Test Chamber簡介：本試驗箱適用于考核產品（整機）、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環次數等因素。

高低溫沖擊試驗箱 High And LowTemperature Shock Test Chamber技術參數：

高低溫冷熱沖擊試驗TS2系列

性 能 參 數     ：

1.高溫室      溫度暴露范圍：+60～＋200℃、預熱溫度上限：200℃、升溫時間      ：R.T.→＋200℃約40min

2.低溫室      溫度暴露范圍：0～-75℃、 預冷溫度下限：-75℃、 降溫時間：R.T.→-70℃約60min

3.提籃   溫度范圍：-65～150℃、溫度波動度：≤1℃（≤±0.5℃，按GB/T5170-1996表示）、溫度偏差：≤±2℃（-65℃～+150℃）

4.轉換時間：≤5S

5.溫度恢復時間≤5min

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