中國國際半導體照明論壇(SSLCHINA)是中國地區最具國際影響力的半導體照明及智能照明行業年度盛會，也是業界最為關注的論壇之一。第十二屆中國國際半導體照明論壇(SSLCHINA 2015)將于2015年11月2-4日在深圳會展中心舉辦，論壇緊扣時代發展脈搏與產業發展趨勢，以“互聯時代的LED+”為大會主題，探討產業發展大勢。

　　科技部副部長曹健林、國際照明協會主席Yoshi Ohno將分別擔任本次大會的中、外方主席。目前開閉幕大會、技術分會等特邀嘉賓正在全球征集中。

　　據組委會最新消息，RTI International工程研究總監J. Lynn Davis博士將出席本屆論壇，并在P203“可靠性與熱管理”技術分會上發表“SSL器件加速應力測試案例研究”的精彩報告。

　　J. Lynn Davis博士表示，SSL器件是由發光二極管(LED)、光學元件、反光片、電子驅動及連接器等多個元件構成的復雜系統。為此類器件設計加速壓力測試(AST)是試圖在大幅度縮減時間框架下為照明系統元件創建現實失效模式的復雜項目。溫度、濕度及電應力等一些環境壓力因素會加速老化和降解過程。然而，每項壓力因素對系統元件所產生的影響都不同，應對此加以了解并得出產品的可靠性和壽命信息。通過對環境壓力條件和SSL器件進行綜合研究，能夠更深入理解SSL系統加速測試的優點與局限。

　　Davis博士在報告中將討論SSL系統AST實驗方法與結果，包括失效模式識別及與現實經驗的關聯。他將介紹SSL器件強加速應力測試(HAST)的結果以及該方法中潛在失效模式的啟示和局限。

　　Davis博士還將介紹其他AST方法，例如高溫運行壽命法(HTOL)及濕高溫運行壽命法(WHTOL)等。有關上述測試方法對系統元件的影響，將重點關注LED、透鏡及電子驅動等。

　　為突出AST的優勢，Davis博士將等同的暖白光和冷白光產品進行對比，其中還包括檢驗LED封裝方式(即，中功率與高功率LED)以及其他LED屬性所產生的影響，如相關色溫(CCT)對流明維持率和色點穩定性的影響。

　　J. Lynn Davis是RTI International的工程研究總監。他所帶領的團隊的研究領域主要涉及照明及空氣過濾等方面的節能建筑產品，客戶包括美國能源部、美國環境保護署及各類商業客戶。Davis博士的團隊曾榮獲多個重要獎項，包括《研發雜志》的“R&D 100”獎、能源研究所的創新獎、美國能源部的研發成果獎等。

　　Davis博士是電氣與電子工程師學會(IEEE)的資深會員，并曾因在納米技術標準制定方面所做的工作而獲得國際電工技術委員會(IEC)的“1906獎”。他曾發表50多篇技術論文，并獲得45項左右的美國專利授權，涵蓋節能與材料技術的多個方面。