《光電測(cè)試技術(shù)》
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上傳人：admin 上傳時(shí)間： 2007-02-08 瀏覽次數(shù)： 161 |
本書以光電測(cè)試方法和傳感技術(shù)為主線，以激光測(cè)試技術(shù)為重點(diǎn)，較全面地介紹在光學(xué)量和非光學(xué)量的測(cè)試中所涉及的基本理論、主要測(cè)量原理、方法、儀器組成以及主要技術(shù)特點(diǎn)等。
全書共分7章，第1章介紹基本光學(xué)量的測(cè)試技術(shù)；第2章介紹色度學(xué)的基本原理和色度、光度測(cè)試技術(shù)；第3~5章介紹激光測(cè)試技術(shù)；第6章介紹光纖傳感測(cè)試技術(shù)；第7章介紹應(yīng)用廣泛的莫爾條紋、三角法和圖像測(cè)試技術(shù)。上述的光電測(cè)試技術(shù)廣泛地應(yīng)用于工業(yè)、農(nóng)業(yè)、文教、衛(wèi)生、國防、科研和家庭生活等各個(gè)領(lǐng)域。
讀者對(duì)象：本書可作為光學(xué)工程、儀器科學(xué)與技術(shù)、電子科學(xué)與技術(shù)、信息科學(xué)與技術(shù)專業(yè)的本科生、研究生教材，也可作為相關(guān)專業(yè)本科生、研究生的參考書，亦可供有關(guān)工程技術(shù)人員參考。
緒論
第1章 基本光學(xué)量測(cè)試技術(shù)
1.1 光電系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)和調(diào)焦技術(shù)
1.1.1 目視系統(tǒng)的對(duì)準(zhǔn)和調(diào)焦
1.1.2 光電對(duì)準(zhǔn)
1.1.3 光電定焦
1.2 焦距和頂焦距的測(cè)量
1.2.1 概述
1.2.2 放大率法
1.2.3 附加透鏡法
1.2.4 精密測(cè)角法
1.3 星點(diǎn)檢驗(yàn)
1.3.1 星點(diǎn)檢驗(yàn)的理論基礎(chǔ)
1.3.2 星點(diǎn)檢驗(yàn)條件
1.4 分辨率測(cè)試技術(shù)
1.4.1 衍射受限系統(tǒng)的分辨率
1.4.2 分辨率測(cè)試方法
1.5 刀口陰影法檢驗(yàn)
1.5.1 刀口陰影法基本原理
1.5.2 刀口陰影法檢驗(yàn)面形誤差
1.5.3 刀口陰影法檢驗(yàn)大口徑凹球面曲率半徑
1.5.4 刀口陰影法檢驗(yàn)光學(xué)系統(tǒng)幾何像差
1.6 光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試技術(shù)
1.6.1 光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試基礎(chǔ)
1.6.2 光學(xué)傳遞函數(shù)測(cè)試原理及方法
1.6.3 光學(xué)傳遞函數(shù)用于像質(zhì)評(píng)價(jià)
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第2章 色度和光度測(cè)試技術(shù)
2.1 色度學(xué)的基本概念和實(shí)驗(yàn)定律
2.1.1 格拉斯曼顏色混合定律
2.1.2 色度學(xué)中的基本概念
2.1.3 CIE標(biāo)準(zhǔn)色度系統(tǒng)
2.1.4 CIE標(biāo)準(zhǔn)照明體和標(biāo)準(zhǔn)光源
2.2 CIE色度計(jì)算方法
2.2.1 色品坐標(biāo)計(jì)算
2.2.2 顏色相加計(jì)算
2.2.3 主波長和色純度計(jì)算
2.3 色度的測(cè)試方法和應(yīng)用
2.3.1 積分球及其應(yīng)用
2.3.2 顏色的測(cè)量方法和儀器
2.3.3 有色光學(xué)玻璃的色度測(cè)量
2.4 像面照度均勻性測(cè)試技術(shù)
2.5 光學(xué)系統(tǒng)透過率測(cè)試技術(shù)
2.5.1 望遠(yuǎn)系統(tǒng)透過率的測(cè)量
2.5.2 照相物鏡透過率的測(cè)量
2.6 光學(xué)系統(tǒng)雜光系數(shù)的測(cè)量
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第3章 激光測(cè)試技術(shù)
3.1 激光概述
3.1.1 激光的基本性質(zhì)
3.1.2 高斯光束
3.1.3 激光器的分類和特點(diǎn)
3.2 激光準(zhǔn)直技術(shù)及應(yīng)用
3.2.1 激光束的壓縮技術(shù)
3.2.2 激光準(zhǔn)直測(cè)試技術(shù)
3.2.3 激光準(zhǔn)直測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用
3.3 激光多普勒測(cè)速技術(shù)
3.3.1 激光多普勒測(cè)速技術(shù)基礎(chǔ)
3.3.2 激光多普勒測(cè)速技術(shù)應(yīng)用
3.4 激光測(cè)距技術(shù)
3.4.1 激光相位測(cè)距
3.4.2 脈沖激光測(cè)距
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第4章 激光干涉測(cè)試技術(shù)
4.1 激光干涉測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
4.1.1 干涉原理與干涉條件
4.1.2 影響干涉條紋對(duì)比度的因素
4.1.3 共程干涉和非共程干涉
4.1.4 干涉條紋的分析與波面恢復(fù)
4.1.5 提高分辨力的方法和干涉條紋的信號(hào)處理
4.2 激光斐索(Fizeau)型干涉測(cè)試技術(shù)
4.2.1 激光斐索型平面干涉測(cè)量
4.2.2 斐索型球面干涉儀
4.3 激光全息干涉測(cè)試技術(shù)
4.3.1 全息術(shù)及其基本原理
4.3.2 全息干涉測(cè)試技術(shù)
4.3.3 全息干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用
4.4 激光外差干涉測(cè)試技術(shù)
4.4.1 激光外差干涉測(cè)試技術(shù)原理
4.4.2 激光外差干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用
4.5 激光移相干涉測(cè)試技術(shù)
4.5.1 激光移相干涉測(cè)試技術(shù)原理
4.5.2 激光移相干涉測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)
4.5.3 激光移相干涉測(cè)試技術(shù)應(yīng)用
4.6 激光散斑干涉測(cè)試技術(shù)
4.6.1 散斑及其性質(zhì)
4.6.2 激光散斑干涉測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用
4.7 納米技術(shù)中的干涉測(cè)試技術(shù)
4.7.1 掃描隧道顯微鏡（STM）
4.7.2 光子掃描隧道顯微鏡（PSTM）
4.7.3 亞納米零差檢測(cè)干涉系統(tǒng)
4.7.4 亞納米外差檢測(cè)干涉系統(tǒng)
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第5章 激光衍射測(cè)試技術(shù)
5.1 激光衍射測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
5.1.1 惠更斯—菲涅耳原理
5.1.2 巴俾涅原理
5.1.3 單縫衍射測(cè)量
5.1.4 圓孔衍射測(cè)量
5.2 激光衍射測(cè)量方法
5.2.1 間隙測(cè)量法
5.2.2 反射衍射測(cè)量法
5.2.3 分離間隙法
5.2.4 互補(bǔ)測(cè)量法
5.2.5 艾里斑測(cè)量法
5.2.6 衍射頻譜檢測(cè)法
5.3衍射光柵及其應(yīng)用
5.3.1 衍射光柵的基本特性
5.3.2 衍射光柵的典型應(yīng)用
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第6章 光纖測(cè)試技術(shù)
6.1 光纖測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
6.1.1 光纖結(jié)構(gòu)和類型
6.1.2 光纖傳輸原理
6.1.3 光纖傳輸特性
6.1.4 單模光纖的偏振與雙折射
6.1.5 光纖連接耦合技術(shù)
6.2 光纖傳感技術(shù)
6.2.1 振幅調(diào)制傳感型光纖傳感器
6.2.2 相位調(diào)制傳感型光纖傳感器
6.2.3 偏振態(tài)調(diào)制傳感型光纖傳感器
6.2.4 傳光型光纖傳感技術(shù)及應(yīng)用
6.2.5 分布式光纖傳感原理
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
第7章 其他典型光電測(cè)試技術(shù)
7.1 莫爾測(cè)試技術(shù)
7.1.1 莫爾測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
7.1.2 莫爾形貌（等高線）測(cè)試技術(shù)
7.1.3 莫爾測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用
7.2 三角法測(cè)試技術(shù)
7.2.1 三角法測(cè)試技術(shù)基礎(chǔ)
7.2.2 三角法測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用
7.3 圖像測(cè)試技術(shù)
7.3.1 圖像信息的獲取
7.3.2 圖像的預(yù)處理技術(shù)
7.3.3 圖像測(cè)試技術(shù)的應(yīng)用
思考與練習(xí)
參考文獻(xiàn)
來源：www.lightbook.net
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