一種基于偽失效壽命的LED可靠性快速評價方法
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上傳人：郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 上傳時間： 2013-04-16 瀏覽次數： 47 |
| 作者 | 郭偉玲、樊星、崔德勝、吳國慶、俞鑫 |
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| 單位 | 北京工業大學光電子技術省部共建教育部重點實驗室 |
| 分類號 | TN312.8 |
| 發表刊物 | 《發光學報》 |
| 發布時間 | 2013年 |
摘要：提出一種快速評價LED可靠性的有效方法。通過測試LED樣品的偽失效壽命,結合Minitab軟件進行數據分析,確定全部樣品的偽失效壽命服從二參數的威布爾分布。通過計算威布爾分布尺度參數,比較不同樣品的尺度參數來評價產品的可靠性。該方法對LED的可靠性評價和壽命預測有一定的參考價值。
1引言隨著電子信息技術應用的日益廣泛,各種電子產品對現代社會的影響日益增大,產品結構的復雜以及使用條件的嚴苛使得產品發生故障及潛在失效的可能性越來越大,可靠性已經成為電子產品最重要的質量指標。傳統意義的可靠性評估主要是基于數理統計和壽命試驗形成的一套理論方
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